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金属学报  2001, Vol. 37 Issue (4): 337-339     
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低辐射薄膜TiO2-Ag-TiO2-SiO的纳米尺度显微结构
詹倩  于荣  贺连龙  李斗星  郭晓楠
中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室;沈阳110016
引用本文:

詹倩; 于荣; 贺连龙; 李斗星; 郭晓楠 . 低辐射薄膜TiO2-Ag-TiO2-SiO的纳米尺度显微结构[J]. 金属学报, 2001, 37(4): 337-339 .

全文: PDF(128 KB)  
摘要: 成功地制备了TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品,并对其微观结构进行TEM,HREM及纳米束EDS分析.结果表明,薄膜各层厚度均匀,界面明锐、光滑.Ag层由纳米晶组成,而TiO2和SiO层为非晶.Ag在膜层中没有扩散或聚团,这也正是保证整个薄膜性能指标的一个重要因素.
关键词 低辐射薄膜微观结构HREM纳米束分析    
Key words
收稿日期: 2000-09-12     
ZTFLH:  O484.1  
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