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金属学报  1994, Vol. 30 Issue (17): 233-237    
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直流磁控溅射沉积(Ti,Al)N膜的研究
蒋生蕊;彭栋梁;赵学应;谢亮;李强
兰州大学
STUDY OF (Ti,Al)N FILMS DEPOSITED BY DC MAGNETRON SPUTTERING
JIANG Shengrui; PENG Dongliang; ZHAO Xueying; XIE Liang; LI Qiang(Lanzhou University)
引用本文:

蒋生蕊;彭栋梁;赵学应;谢亮;李强. 直流磁控溅射沉积(Ti,Al)N膜的研究[J]. 金属学报, 1994, 30(17): 233-237.
, , , , . STUDY OF (Ti,Al)N FILMS DEPOSITED BY DC MAGNETRON SPUTTERING[J]. Acta Metall Sin, 1994, 30(17): 233-237.

全文: PDF(283 KB)  
摘要: 研究了用直流磁控反应性溅射法在Ar+N2气氛中沉积(Ti,Al)N膜的工艺。(Ti,Al)N膜具有比TiN膜高的耐磨性、硬度和高温抗氧化性。AES深度分析表明,由Al的选择性氧化形成的Al2O3保护层,是(Ti,Al)N膜具有优良高温抗氧化性能的原因.
关键词 (TiAl)N薄膜磁控溅射高温氧化    
Abstract:Deposition technique of (Ti,Al)N films sputtered in the Ar+N2 atmosphere using reactive DC magnetron method was studied. The hardness, wear resistance and oxidation resistance of (Ti,Al)N films are superior to those of TiN films. The AES results show that the superior antioxidation characteristic of (Ti,Al) N films at high temperatures results from the formation of protective Al2O3 layers as a result of selective oxidation of Al.
Key words(Ti    Al)N film    DC magnetron sputtering    oxidation resistance
    
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