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金属学报  1999, Vol. 35 Issue (9): 934-938     
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In2O3:Sn(ITO)薄膜的光学特性研究
陈猛 白雪冬 裴志亮 孙超 宫骏 黄荣芳 闻立时
中国科学院金属研究所; 沈阳 110015
引用本文:

陈猛; 白雪冬; 裴志亮; 孙超; 宫骏; 黄荣芳; 闻立时 . In2O3:Sn(ITO)薄膜的光学特性研究[J]. 金属学报, 1999, 35(9): 934-938 .

全文: PDF(324 KB)  
摘要: 对掺三氧化铟(Sn-doped In2O3简称ITO)薄膜光学特性进行了研究. 结果表明, 该薄膜在可见光区具有高的透射率;低电阻率的ITO薄膜在红外区的反射率随薄膜广场电阻的减小而增大, 表现在金属性质, ITO薄膜的电磁本构特性参数光学折射率n和消光系数K在450-800nm区间的色散很弱, 基于对薄膜光学吸收及收系线性拟事表明, 薄膜在K=0处价速写对导带的跃迁是禁戒跃迁.
关键词 薄膜红外反射率ITO光学特性    
Key words
收稿日期: 1999-03-11     
ZTFLH:  O484.41 TN304.21  
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