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金属学报  2000, Vol. 36 Issue (5): 535-538     
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FeNiCrSiB/Cu/FeNiCrSiB膜的磁畴结构和巨磁阻抗效应
刘德镇 萧淑琴
山东工业大学材料科学与工程学院; 济南 250061
引用本文:

刘德镇; 萧淑琴 . FeNiCrSiB/Cu/FeNiCrSiB膜的磁畴结构和巨磁阻抗效应[J]. 金属学报, 2000, 36(5): 535-538 .

全文: PDF(165 KB)  
摘要: 用高频溅射法制备了FeNiCrSiB/Cu/FeNiCrSiB膜, 经350℃退火20min后得到性能优良的巨大磁阻抗材料, 磁畴结构观察表明, 样品中心为均匀的细条畴靠近边缘, 磁畴方向转向横向, 这种畴结构有利于磁力线的闭合, 是获得显著的巨阻抗效应的重要原因之一, 磁阻抗测量表明, 样品在13MHZ的频率下, 分别获得了63%和7%的纵向和横向磁阻抗比.
关键词 巨磁阻抗效应磁畴结构软磁合金薄膜    
Key words
收稿日期: 1999-10-29     
ZTFLH:  TM271.2 O484.1  
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