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金属学报  2004, Vol. 40 Issue (11): 1205-1209     
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传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响
孙秋霞; 张鉴清; 林薇薇
(浙江大学化学系; 杭州 310013)
引用本文:

孙秋霞; 张鉴清; 林薇薇 . 传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响[J]. 金属学报, 2004, 40(11): 1205-1209 .

全文: PDF(219 KB)  
摘要: 根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法, 探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用. CR电路拟合稳定性较高, 对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律, 导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响. 对于阻挡性不完整的薄涂层, 在一定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f* 变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关, 但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化, 并解释了其原因.
关键词 阻抗谱传输线涂层厚度    
Key words
收稿日期: 2003-11-28     
ZTFLH:  O646  
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