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金属学报  2000, Vol. 36 Issue (2): 212-216     
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晶体表面宏观迹线分析方法及其应用
李蓬 李玉清
Department of Materials Science and Engineering; University of Virginia; Charlottesville; VA 22903; USA
引用本文:

李蓬; 李玉清 . 晶体表面宏观迹线分析方法及其应用[J]. 金属学报, 2000, 36(2): 212-216 .

全文: PDF(165 KB)  
摘要: 从晶体表面宏观迹线配置, 提出精确确定各各晶系晶体的取向, 计算单晶3个相互垂直表面上基体和孪晶中滑移面和孪生面等迹线分布的方法. 作为应用实例, 精确确定了一种四方点阵结构的Ti-56Al单晶的宏观取向. 计算和拟合出试样3个不严格垂直表面的指数及其上全部迹线分布.
关键词 晶体表面宏观迹线分析方法    
Key words
收稿日期: 1999-05-26     
ZTFLH:  TG146.23 TG115.213  
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