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金属学报  2003, Vol. 39 Issue (11): 1225-1227     
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用薄膜内耗仪测定薄膜应力
李健 M.Wuttig
上海宝山钢铁股份公司分析技术中心;上海201900
引用本文:

李健; M.Wuttig . 用薄膜内耗仪测定薄膜应力[J]. 金属学报, 2003, 39(11): 1225-1227 .

全文: PDF(146 KB)  
摘要: 采用一种新的薄膜内耗仪观测Ni50Ti50薄膜样品的形变(薄膜形变造成薄膜与载膜硅片之间的界面应力)随温度或其它环境参量的变化.同步测量了薄膜的内耗、动态模量、薄膜应力以及Ni50Ti50薄膜的相变过程.
关键词 内耗形状记忆效应薄膜应力    
Key words
收稿日期: 2003-07-09     
ZTFLH:  TG111.7  
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