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金属学报  2000, Vol. 36 Issue (11): 1179-1182     
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利用XPS及电化学方法研究电镀Cr添加剂的作用机理
关山 张琦
北京航空航天大学材料科学与工程系;北京 100083
引用本文:

关山; 张琦 . 利用XPS及电化学方法研究电镀Cr添加剂的作用机理[J]. 金属学报, 2000, 36(11): 1179-1182 .

全文: PDF(159 KB)  
摘要: 利用阴极极化曲线、电化学交流阻抗图谱、微分电容曲线对含有机物的镀Cr添加剂进行了研究. 提出了添加剂在阴极表面形成一种(R(OH)n•CrOH•CrO4+Cr(OH)3•CrOH•CrO4)(R代表有机物)荷正电的混合阴极胶体膜, 较好地解释了添加剂对阴极析Cr的去极化作用, 以及溶液反应电阻增高、微分电容下降、析氢电流降低等现象. 通过对镀层进行表层及深层的XPS分析, 证实了上述假设.
关键词 镀铬添加剂XPS电化学方法    
Key words
收稿日期: 2000-01-28     
ZTFLH:  TQ153.11  
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