金属学报  1979, Vol. 15 Issue (1): 77-194

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在扫描电子显微镜中确定断裂面结晶学性质的技术

廖乾初;孙福玉;蓝芬兰

北京钢铁研究院;北京钢铁研究院;北京钢铁研究院

ON THE EXAMINATION OF FRACTURED SURFACE BY SEM

Liao Qianchu;Sun Fuyu;Lan Fenlan Beijing Institute of Iron and Steel Research

廖乾初;孙福玉;蓝芬兰. 在扫描电子显微镜中确定断裂面结晶学性质的技术[J]. 金属学报, 1979, 15(1): 77-194.
, , . ON THE EXAMINATION OF FRACTURED SURFACE BY SEM[J]. Acta Metall Sin, 1979, 15(1): 77-194.

摘要 参考文献 相关文章 Metrics 全文: PDF(3810 KB)   摘要: 文中介绍了确定断裂面的结晶学性质的一些技术: 1.电子通道图分析技术; 2.表面特征痕迹分析技术; 3.二面角分析技术; 4.蚀坑分析技术。 对上述技术所存在的问题和局限性进行了讨论,表明这四种技术是互为补充的。根据断裂性质,可以选用其中一种技术去分析其断裂面的结晶学位向。 Abstract：Methods adopted in our laboratory for the examination of fractured surfaceby SEM may proceed in four ways: (1) ECP analysis technique; (2) Surface trace analysis technique; (3) Dihedral angle analysis technique; (4) Etch pits analysis technique.The limitation of each singular technique has been discussed, and it is obviousthat they should be used complemental to each other. 收稿日期: 1979-01-18      服务 把本文推荐给朋友 加入引用管理器 E-mail Alert RSS 作者相关文章 廖乾初 孙福玉 蓝芬兰 44.8K 链接本文: https://www.ams.org.cn/CN/      或      https://www.ams.org.cn/CN/Y1979/V15/I1/77 [1] Coates, D. G., Phil. Mag., 21 (1967) , 6, 1197． [2] Booker, G. R., Phil. Mag., 21 (1967) , № 10, 1185． [3] Hirsch, P. B. and Humphreys, C. J., Proc. 3rd SEM Symposium, 1970, p. 449． [4] 廖乾初,孙福玉,蓝芬兰,电子通道图的分析原理,1976年4月. [5] Van Essen, C. G., Schulson, E. M. and Donayhay, R. H., Nature, 225 (1970) , 3235, 847． [6] 廖乾初,孙福玉,蓝芬兰,电子通道图样质量的评价及其控制参数的探讨,1976年. [7] 廖乾初,待发表工作. [8] 廖乾初,扫描电子显微镜原理及其基本分析技术,1975年4月. [9] Motsuda Inoue S. and Okamura Y., Trans Japan Inst. Metals, 11 (1970) , № 5, 371．r No related articles found! Viewed Full text Abstract Cited   Shared      Discussed