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金属学报  2003, Vol. 39 Issue (7): 775-780     
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Sb-Se系和 Ge-Sb-Te 系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能
陈志武 胡乔生
厦门大学材料科学与工程系 361005
引用本文:

陈志武; 胡乔生 . Sb-Se系和 Ge-Sb-Te 系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能[J]. 金属学报, 2003, 39(7): 775-780 .

全文: PDF(184 KB)  
摘要: 利用DSC,X射线衍射及分光光度计,对Sb-Se系和Ge-Sb-Te 系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究。结果表明:Sb-Se系非晶态的光稳定性很不理想,随着波长的改变,反射率变化太快。对于Ge-Sb-Te 系的两种波段处都有较大的反衬度,其非晶态光稳定性也比较理想。随着波长的改变,反射率变化不大。
关键词 相变光盘记录介质热力学参数    
Key words
收稿日期: 2002-09-05     
ZTFLH:  O484.4  
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